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激光测量系统

用户可根据需要选择不同尺寸和功率的温度控制器,并将待测器件置于温度控制器上以保证待测器件工作在理想的温度。系统搭配的高速探测器可精准并快速的采集 VCSEL发出的脉冲光,并依据用户设置的测试方法完成完整的LIVT测试。
 
 
 
适用于测量激光、激光二极管、激光二极管组件、发散的单色光源、脉冲激光功率等,该系统可为350到1700nm波长区域内的激光提供光功率从几nW到几百W的激光功率测量。针对一些特殊的应用,我们亦可通过增加ND滤波片进行衰减。该系统的校准可溯源至国家标准技术研究所(NIST)......

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