成像传感器量子效率和光谱响应测试（传感器）
测量CMOS，CCD和光电传感器的成像和平板阵列的量子效率和光谱响应性，需要在所测传感器的灵敏度范围内的定义波长带的已知辐照度或辐射度的绝对值。
请与我们联系，以获取测试QE和光谱响应性的交钥匙实验室系统和可调标准光源系统。
系统 & 产品：
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