成像传感器量子效率和光谱响应测试解决方案
量子效率和光谱响应性是评估成像传感器性能的两个关键参数。量子效率反映了传感器将入射光子转换为电子-空穴对的能力，而光谱响应性则描述了传感器对不同波长光线的响应特性。通过测量这两个参数，可以全面了解传感器的光电转换性能和光谱特性，为产品的设计、优化和应用提供重要参考。
量子效率测量：量子效率是传感器在特定波长下产生的光生载流子数与入射光子数之比。测量时，通常使用已知辐照度或辐射度的单色光源照射传感器，并测量传感器输出的电信号（如电流或电压）。然后，通过一系列数学运算和校准过程，计算出传感器的量子效率。
光谱响应性测量：光谱响应性描述了传感器在不同波长下的响应强度。测量时，需要使用能够覆盖传感器灵敏度范围的光谱光源，并逐步改变光源的波长，同时测量传感器在不同波长下的输出信号。最后，将输出信号与光源的光谱特性进行比较，得到传感器的光谱响应曲线。
为此，在进行CMOS、CCD以及光电传感器的成像和平板阵列的量子效率和光谱响应性测量时，需要一个能够在所测传感器灵敏度范围内提供定义波长带内已知辐照度或辐射度绝对值的测试系统。这样的系统通常包括高精度的可调积分球光源、光谱仪、辐射计或光功率计，以及一套专门设计的测试软件和校准流程。
蓝菲光学40余年积分球系统生产经验，专业生产成像传感器量子效率测试用积分球均匀光源系统。
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