杂散光（veiling glare）测量
光学或成像系统的像平面通常不仅接收成像辐射，还接收能降低成像对比度的杂散光。这种不需要的辐射称为杂散光（veiling glare）。镜头的杂散光（veiling glare）与镜头系统和相机机身组合的杂散光（veiling glare）有很大不同。在后一种情况下，来自图像传感器的部分成像辐射的反射，再加上来自镜头系统和相机机身的进一步反射和散射会显著贡献杂散光。
一种测量杂散光（veiling glare）的方法称为积分法。用积分方法，目标对象是一个被扩展均匀光源包围的小的黑色区域。杂散光系数（veiling glare index）指定为黑色区域成像中的辐照度与扩展光源成像中的辐照度之比。
一般来说，积分方法适用于场景通常具有大致均匀辐射的系统，例如在阴天条件下或太阳在相机或镜头系统后的景观成像。
